Takahisa Yamane, Spectrum Logic’s Senior Technical Manager, gave a presentation at Power Device & Module Technology Seminar, which was part of the Nepcon R&D and Manufacturing exhibition held at Big Sight, Tokyo, Japan. Tak discussed the advantages of CMOS X-ray Technology for Non-Destructive Testing and Inspection of Electronics at 11am on Friday 26th January
Takahisa Yamane
Power Device & Module Technology Seminar
Fri 26 January - 11:00-11:30
Spectrum Logicのシニアテクニカルマネージャーである山根貴久氏は、東京ビッグサイトで開催されるネプコンの研究開発および製造展示会の一部であるパワーデバイスおよびモジュール技術セミナーで講演します。 Tak は、1 月 26 日金曜日の午前 11 時に、電子機器の非破壊検査および検査における CMOS X 線技術の利点について説明します。